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普通掃描電鏡是一種利用電子進(jìn)行成像的顯微鏡，由英文ScanningElectronMicroscope直譯得名，簡稱為掃描電鏡。由于電子的德布羅意波長遠(yuǎn)小于可見光的波長，掃描電鏡具有比光學(xué)顯微鏡高得多圖像分辨率，使我們擁有在亞原子尺度上觀察微觀世界的能力。掃描電鏡噴金幾乎可以對所有類型的樣本進(jìn)行圖像處理，陶瓷、金屬、合金、半導(dǎo)體、聚合物、生物樣品等。然而，某些特定類型的樣品更具有挑戰(zhàn)性，并且需要操作者進(jìn)行額外的樣品制備，以便借助掃描電鏡噴金收集高質(zhì)量圖片。這些額外的步驟包括在...

臺式電鏡是一個復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機(jī)控制等技術(shù)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過多級電磁透鏡匯集成細(xì)小（直徑一般為1~5nm）的電子束（相應(yīng)束流為10-11~10-12A）。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描（行掃+幀掃）。入射電子與試樣相互作用會產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。臺式電鏡直觀的用戶界面、簡便的觸摸屏控制，以及各項自動調(diào)節(jié)功能，使用戶僅需極少的培訓(xùn)，就可以得到高質(zhì)量的圖像...

近年來，我國國民經(jīng)濟(jì)的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對鋼鐵的需求，同時也拉動了煉焦生產(chǎn)的高速度發(fā)展。焦炭產(chǎn)能的快速擴(kuò)張導(dǎo)致煉焦煤供應(yīng)緊張，煉焦煤價格大幅度升高，又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術(shù)的應(yīng)用，對焦炭質(zhì)量提出了更高的要求，致使優(yōu)質(zhì)煉焦煤供應(yīng)更加緊張。同時，由于焦炭產(chǎn)能過剩，焦炭價格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應(yīng)緊張和經(jīng)濟(jì)效益低下的雙重壓力，如何合理利用煤炭資源，提高企業(yè)經(jīng)濟(jì)效益，滿足鋼鐵工業(yè)持續(xù)發(fā)展是擺在焦化企業(yè)面前的緊迫任務(wù)，也是長期任務(wù)。煤巖分析系統(tǒng)是用于煤田地質(zhì)勘探、煤礦開...

掃描電子顯微鏡，簡稱為掃描電鏡，英文縮寫為SEM（ScanningElectronMicroscope）。它是用細(xì)聚焦的電子束轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析。SEM已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、礦物、生物學(xué)等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。作用：獲得掃描電子束、作為產(chǎn)生物理信號的激發(fā)源。為了獲得較高的信號強(qiáng)度和圖像分辨率，掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。電子槍利用...

低溫環(huán)境XRD已成為了解溫度、氣氛或壓力對材料影響*的技術(shù)。除了與研究相關(guān)外，這些知識對于優(yōu)化技術(shù)流程和進(jìn)行工業(yè)質(zhì)量控制也至關(guān)重要。通過實時監(jiān)測樣品在不同溫度條件下的結(jié)晶情況，分析其衍射圖譜可以得到不同溫度條件下的半峰寬、強(qiáng)度、晶面間距以及晶粒尺寸等信息，從而研究樣品的相變、結(jié)晶度變化規(guī)律。低溫環(huán)境XRD采用環(huán)境降溫的方式，溫度探頭測試的為內(nèi)層密封罩內(nèi)低溫惰性氣體的溫度，當(dāng)腔體內(nèi)溫度達(dá)到平衡后，樣品表面的溫度近似與腔體內(nèi)溫度相等，故此時監(jiān)測的溫度為樣品表面溫度，測試的圖譜為該...

激光拉曼光譜儀分析是一種非破壞性的微區(qū)分析手段，液體、粉末及各種固體樣品均不需特殊處理即可用于拉曼光譜的測定。拉曼光譜可以單獨，或與其他技術(shù)（如X衍射譜、紅外吸收光譜、中子散射等）結(jié)合起來應(yīng)用，方便地確定離子、分子種類和物質(zhì)結(jié)構(gòu)。其應(yīng)用主要是對各種固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)物質(zhì)的分子組成、結(jié)構(gòu)及相對含量等進(jìn)行分析，實現(xiàn)對物質(zhì)的鑒別與定性。激光拉曼光譜儀的主要部件有：激光光源、樣品池、單色器、光電檢測器、記錄儀和計算機(jī)。1.激光光源：多用連續(xù)式氣體激發(fā)器，有主要波長為632.8nm的He...

臺式電鏡SEM可以對器件的尺寸和一些重要的物理參數(shù)進(jìn)行分析，如結(jié)深、耗盡層寬度少子壽命、擴(kuò)散長度等等，也就是對器件的設(shè)計、工藝進(jìn)行修改和調(diào)整。臺式掃描電鏡二次電子像可以分析器件的表面形貌，結(jié)合縱向剖面解剖和腐蝕，可以確定PN結(jié)的位置、結(jié)的深度。利用臺式掃描電鏡束感生電流工作模式，可以得到器件結(jié)深、耗盡層寬度、MOS管溝道長度，還能測量擴(kuò)散長度、少子壽命等物理參數(shù)。對于1nm以下的短溝道器件檢測，可用類似于測量耗盡層寬度的方法，電子束對MOS場效應(yīng)管進(jìn)行掃描，得到二條束感生電流...