鎢燈絲電鏡(Tungsten Filament Electron Microscopy，WEM)是一種常見的透射電鏡(TEM)，利用結(jié)晶或非晶樣品所產(chǎn)生的散射證據(jù)來分析材料結(jié)構(gòu)。電子束被放射出來，經(jīng)過聚焦實現(xiàn)功能的集成電路(ASIC)后聚焦到樣品上，然后在樣品上發(fā)生彈性和非彈性碰撞。不同反射角度的電子會產(chǎn)生不同強度的暗場和亮場效果，提供了微觀結(jié)構(gòu)的信息。
 

　　如何使用鎢燈絲電鏡？
 

　　1.準備完整設(shè)備，將標本拍攝模塊安裝到鎢絲爐板下方。
 

　　2.使用純酸和去離子水清洗標本，防止在取樣時污染標本。
 

　　3.使用特制剪刀或者剪切機器準確切割樣品。
 

　　4.將樣品放置在聚焦棱鏡上方的夾具中。
 

　　5.封閉開口，活塞推動桿上升將樣品送入高真空殼體，然后必須密封。
 

　　6.液氮冷卻鎢絲爐達到所需溫度，減帶雜質(zhì)并延長壽命。
 

　　7.確定所有的參數(shù)(如電流和衍射排除片)正確地設(shè)置。
 

　　8.通過攝像機和計算機軟件進行記錄和分析。
 

　　鎢燈絲電鏡的相關(guān)知識介紹：
 

　　1.鎢燈絲是產(chǎn)生電子束的源頭，它的尺寸和形狀會影響電子束的大小和聚焦度。通常使用直徑為0.3mm的鎢絲。
 

　　2.電子束可以通過電子透鏡來聚焦，從而控制電子束的直徑和密度。
 

　　3.分辨率高達0.2納米，可以觀察到大量的微觀結(jié)構(gòu)和形態(tài)。由于其較高的分辨率和高質(zhì)量的成像，它是物理、化學、生物領(lǐng)域等科學研究的重要工具之一。
 

　　4.主要用于觀察非生物樣品，如金屬材料、半導體、陶瓷、塑料等材料的結(jié)構(gòu)和表面形態(tài)。同時也可用于研究納米材料、光學器件等領(lǐng)域。
 

　　5.鎢燈絲電鏡有兩種基本類型：透射電鏡和掃描電鏡。透射電鏡是利用電子束透過樣品來形成圖像，而掃描電鏡則是通過掃描樣品表面產(chǎn)生來自反射電子的信息來觀察樣品表面形貌。